LLM 水印统计框架：假设检验视角下可解出最优检测规则

arXiv 论文 2404.01245 提出统一统计框架，把 LLM 水印检测建模为假设检验，用枢轴统计量加验证密钥精确控制假阳性率。该框架推导出渐近假阴性率的闭式表达式，并将最优检测规则归结为极小极大优化问题求解。方法通过熵最优传输，在无水印随机采样与 Aaronson 的 Gumbel-max 水印之间给出连续谱，已应用于两种代表性水印，其一已在 OpenAI 内部实现。